1 试验
1.1 原料及试样制备
1.2 试样的分析与表征
2 结果与讨论
2.1 硫化时间对ZnS薄膜晶体结构和光学性能的影响
2.2 硫化时间对ZnS薄膜成分和表面形貌的影响
3 结论
文章摘要:首先采用磁控溅射法在玻璃衬底上沉积Zn薄膜,再先后于200℃和400℃温度下对Zn薄膜进行硫化处理以制备ZnS薄膜,借助X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线能谱仪(EDS)、紫外-可见分光光度计等研究了硫化时间对所制ZnS薄膜性能的影响。结果表明,ZnS为六方晶体结构,在200℃及400℃和硫化时间均为1 h的条件下,所制ZnS薄膜的结晶性、光学性质、S/Zn原子比及组织均匀性最佳。
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